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日本電子(zi)掃描(miao)電鏡(jing)用于觀(guan)察(cha)和測量(liang)各種樣(yang)品，包括(kuo)電子(zi)元件和金屬材料。此顯(xian)微鏡(jing)使(shi)用簡單，只要放(fang)上樣(yang)品，就(jiu)可(ke)以輕(qing)松地完成 3D 觀(guan)察(cha)、測量(liang)、報告(gao)自動(dong)生成等一系(xi)列操作。

JEM-2100 時間分(fen)辨電(dian)子顯微鏡及相關附件是利用一個(ge)或(huo)(huo)多個(ge)激光(guang)器進行pump-探針(zhen)(zhen)實驗而設計(ji)的(de)用于研(yan)究樣品(pin)中的(de)瞬(shun)態現象。 用戶可以直接用激光(guang)激發樣品(pin)，紫外(wai)激光(guang)產生(sheng)光(guang)電(dian)子探針(zhen)(zhen)脈(mo)沖(chong)，在成(cheng)像、衍(yan)射、光(guang)譜(pu)或(huo)(huo)光(guang)譜(pu)成(cheng)像模式下對樣品(pin)進行探測。